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  • VersaSCAN SKP掃描開(kāi)爾文探針系統
    VersaSCAN SKP掃描開(kāi)爾文探針系統
    型號:VersaSCAN SKP
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    VersaSCAN SKP掃描開(kāi)爾文探針系統整合定位系統及鎖相放大器技術(shù)(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動(dòng)模塊, 電位計和鎢絲探針。

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  • VersaSCAN微區掃描電化學(xué)測試系統
    VersaSCAN微區掃描電化學(xué)測試系統
    型號:VersaSCAN
    瀏覽量:17783

    VersaScan微區掃描電化學(xué)測試系統是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設計基礎上的,進(jìn)行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學(xué)微區測試系統。它是提供給電化學(xué)及材料測試以較高空間分辨率的一個(gè)測試平臺。

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  • 普林斯頓VersaScan微區掃描電化學(xué)工作站
    普林斯頓VersaScan微區掃描電化學(xué)工作站
    型號:普林斯頓VersaScan
    瀏覽量:42586

    材料腐蝕的電化學(xué)測試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀(guān)測試, 測試結果只反映樣品的不同局部位置的整體統計結果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,微區掃描系統提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應用

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